熱門搜索：
代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
產(chǎn)品中心
-
CEDAR思達(dá)
-
Stucchi思多奇
-
NITTO KOHKI日...
-
Sankei
-
KYOWA協(xié)和工業(yè)
- DIT東日技研
- AITEC艾泰克
-
SIGMAKOKI西格瑪...
- REVOX萊寶克斯
- CCS 希希愛視
- SIMCO思美高
- POLARI0N普拉瑞
- HOKUYO北陽電機(jī)
- SSD西西蒂
- EMIC 愛美克
- TOFCO東富科
-
打印機(jī)
- HORIBA崛場
- OTSUKA大冢電子
- MITAKA三鷹
- EYE巖崎
- KOSAKA小坂
-
SAGADEN嵯峨電機(jī)
- TOKYO KEISO東...
- takikawa 日本瀧...
- Yamato雅馬拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
-
SENSEZ 靜雄傳感器
- marktec碼科泰克
- KYOWA共和
- FUJICON富士
- SANKO山高
-
Sugiyama杉山電機(jī)
-
Osakavacuum大...
-
YAMARI 山里三洋
- ACE大流量計(jì)
- KEM京都電子
- imao今尾
- AND艾安得
- EYELA東京理化
- ANRITSU安立計(jì)器
- JIKCO 吉高
- NiKon 尼康
- DNK科研
- Nordson諾信
- PISCO匹斯克
- NS精密科學(xué)
- NDK 日本電色
-
山里YAMARI
- SND日新
-
Otsuka大塚電子
- kotohira琴平工業(yè)
- YAMABISHI山菱
- OMRON歐姆龍
- SAKURAI櫻井
- UNILAM優(yōu)尼光
-
氙氣閃光燈
-
UV反轉(zhuǎn)曝光系統(tǒng)
-
UV的水處理
-
檢測系統(tǒng)
-
光照射裝置
-
點(diǎn)光源曝光
-
變壓型電源供應(yīng)器
-
超高壓短弧汞燈
-
UV光洗凈
-
UV曝光裝置
-
uv固化裝置
-
紫外可見光光度計(jì)
產(chǎn)品展示
-
日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-4000 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-4000 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-4000
-
日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-2000 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-2000 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-2000
-
日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-1100 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-1100 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-1100
-
日本大冢高速LED光學(xué)特性儀 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光學(xué)特性儀 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光學(xué)特性儀 LE-SERIES-LE-5400
-
日本大冢全光束測量系統(tǒng) HM-SERIES 日本大冢全光束測量系統(tǒng) HM-SERIES 日本大冢全光束測量系統(tǒng) HM-SERIES
-
日本大冢全光束測量系統(tǒng) FM-SERIES 日本大冢全光束測量系統(tǒng) FM-SERIES 日本大冢全光束測量系統(tǒng) FM-SERIES
-
日本大冢高速近場配光測量系統(tǒng)RH1000 日本大冢高速近場配光測量系統(tǒng)RH1000 日本大冢高速近場配光測量系統(tǒng)RH1000
-
日本大冢量子效率測量系統(tǒng)QE-2100 日本大冢量子效率測量系統(tǒng)QE-2100 日本大冢量子效率測量系統(tǒng)QE-2100
-
日本大冢量子效率測量系統(tǒng)QE-2000 日本大冢量子效率測量系統(tǒng)QE-2000 日本大冢量子效率測量系統(tǒng)QE-2000
-
界達(dá)電位OTSUKA大冢量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)界達(dá)電位OTSUKA大冢量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng) 激光粒徑分析儀 激光粒度儀 激光粒徑儀 激光散射粒度分布儀 固體表面zeta電位 固體zeta電位 優(yōu)良分子量測量 分子直徑測量 分子量測量 粒度儀 粒徑儀 粒度分析儀 粒度測定儀 zeta電位儀 zeta電位測試 zeta電位測量儀 zeta電位測試儀 納米粒徑分析儀 zeta電位測定儀 nanoSAQL 納米粒度儀 ze
-
界達(dá)電位OTSUKA大冢量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)界達(dá)電位OTSUKA大冢量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng) 激光粒徑分析儀 激光粒度儀 激光粒徑儀 激光散射粒度分布儀 固體表面zeta電位 固體zeta電位 優(yōu)良分子量測量 分子直徑測量 分子量測量 粒度儀 粒徑儀 粒度分析儀 粒度測定儀 zeta電位儀 zeta電位測試 zeta電位測量儀 zeta電位測試儀 納米粒徑分析儀 zeta電位測定儀 nanoSAQL 納米粒度儀 ze
-
界達(dá)電位OTSUKA大冢量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)界達(dá)電位OTSUKA大冢量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng) 激光粒徑分析儀 激光粒度儀 激光粒徑儀 激光散射粒度分布儀 固體表面zeta電位 固體zeta電位 優(yōu)良分子量測量 分子直徑測量 分子量測量 粒度儀 粒徑儀 粒度分析儀 粒度測定儀 zeta電位儀 zeta電位測試 zeta電位測量儀 zeta電位測試儀 納米粒徑分析儀 zeta電位測定儀 nanoSAQL 納米粒度儀 zeta電位分析儀 粒徑分析儀
-
OTSUKA大冢-量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng) 量子點(diǎn)材料具有根據(jù)粒子直徑不同發(fā)光波長發(fā)生變化的特性。 在本系統(tǒng)中，在評(píng)價(jià)粒子直徑以及分散穩(wěn)定性的同時(shí)，也可以對(duì)熒光特性進(jìn)行評(píng)價(jià)。 OTSUKA大冢-量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)OTSUKA大冢-量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)OTSUKA大冢-量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)
-
OTSUKA大冢液晶層間隙量測設(shè)備RETS series OTSUKA大冢液晶層間隙量測設(shè)備RETS series OTSUKA大冢液晶層間隙量測設(shè)備RETS series
-
日本OTSUKA大冢相位差膜?光學(xué)材料檢查設(shè)備RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學(xué)材料檢查設(shè)備RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學(xué)材料檢查設(shè)備RETS-100
-
“一步操作”是一種追求用戶友好性的設(shè)備，無需任何繁重的工作，設(shè)置樣品即可立即看到結(jié)果。 該設(shè)備旨在縮短檢測過程，無需校準(zhǔn)曲線即可高精度、高分辨率地輕松找到優(yōu)良厚度。 由于使用了大冢電子開創(chuàng)的光學(xué)方法，因此可以在不接觸的情況下高精度測量不透明、粗糙表面和容易變形的樣品，同時(shí)節(jié)省空間。
-
除了可實(shí)現(xiàn)高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過實(shí)施自動(dòng)可變測量機(jī)制支持所有類型的薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)光子檢測器方法外，還通過為延遲板提供自動(dòng)安裝/拆卸機(jī)制來提高測量精度。
-
它是一種緊湊、低成本的薄膜厚度計(jì)，它通過簡單的操作實(shí)現(xiàn)了高精度光學(xué)干涉測量的薄膜厚度測量。 我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備安裝在主體中，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。 通過以低廉的價(jià)格獲得**反射率，可以分析光學(xué)常數(shù)。
-
它是一種通過使用顯微光譜測量微小區(qū)域內(nèi)的優(yōu)良反射率，實(shí)現(xiàn)高精度膜厚和光學(xué)常數(shù)分析的設(shè)備。 可以以非破壞性和非接觸的方式測量各種薄膜、晶片、光學(xué)材料和多層薄膜等鍍膜的厚度。可進(jìn)行1秒/點(diǎn)測量時(shí)間的高速測量。它還配備了軟件，即使是初學(xué)者也可以輕松分析光學(xué)常數(shù)。
-
能夠從低亮度到高亮度進(jìn)行高速、高精度測量的光譜輻射亮度計(jì)。 大冢電子獨(dú)特的光譜光學(xué)設(shè)計(jì)和信號(hào)處理電路采用電子冷卻線陣傳感器，實(shí)現(xiàn)了在寬亮度范圍和波長范圍內(nèi)的低噪聲和高精度測量。
-
支持紫外到近紅外區(qū)域的多功能多通道光譜檢測器。光譜光譜可以在*少 5 ms 內(nèi)測量。標(biāo)準(zhǔn)光纖可以在不指定樣品類型的情況下支持各種測量系統(tǒng)。除了顯微光譜、光源發(fā)射、透射/反射測量外，還可以通過結(jié)合軟件支持物體顏色評(píng)估、膜厚測量等。
